涡流测厚仪

应用范围

涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

技术规格

量程： 0～150μm； 精 度： ±3%； 分辨率：0.1μm；

功耗： 0.06W； 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm； 重 量： 280g。

仪器特点

* 膜厚校正片

膜厚校正片是仪器的计量基准。本仪器的膜厚校正片全部经过技术监督部门的检测，附有检测报告。这一点在国内外仪器中都是不多见的。它保证了仪器计量的准确性和可靠性。

* 探头

测厚仪最容易损坏的部件是探头，本仪器对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。

标准配置

主机 1台

膜厚校正片 1套（4片）

校正基体 1块

仪器箱 1个

可选附件

膜厚校正片 （12μmμm(μm@μm附检测报告)

校正基体 6063铝合金

涡流测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适